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能用掃描電鏡看樣品的厚度嗎？

掃描電鏡（SEM）通常不能直接測(cè)量樣品的厚度，因?yàn)樗饕怯^察樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu)。

在掃描電鏡（SEM）成像中，偽影是指非真實(shí)反映樣品結(jié)構(gòu)的圖像特征，常由設(shè)備、樣品或操作問(wèn)題引起。

掃描電鏡（SEM）完全支持對(duì)同一位置進(jìn)行多種模式的掃描成像。這是它的一大優(yōu)勢(shì)，尤其適合材料、電子、地質(zhì)、生物等領(lǐng)域的綜合分析。

掃描電鏡圖像突然抖動(dòng)是一個(gè)較常見(jiàn)的問(wèn)題，通常說(shuō)明系統(tǒng)出現(xiàn)了某種不穩(wěn)定或干擾。

掃描電鏡（SEM）圖像邊緣模糊的確可能與調(diào)焦不當(dāng)有關(guān)，但這只是眾多可能原因之一。

當(dāng)掃描電鏡（SEM）樣品太大、無(wú)法放入樣品艙時(shí)，可以通過(guò)以下幾種方式解決或繞開(kāi)限制：

掃描電鏡（SEM）可以非常有效地檢測(cè)金屬表面的缺陷。它是材料表面分析中常用、可靠的工具之一，尤其適用于微米甚至納米級(jí)別的缺陷觀察。

掃描電鏡（SEM）圖像在放大后出現(xiàn)模糊，是較常見(jiàn)的問(wèn)題，影響微納米結(jié)構(gòu)觀察的清晰度與分辨率。