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掃描電鏡電源不穩(wěn)時(shí)對(duì)成像會(huì)有什么影響？

掃描電鏡（SEM）使用時(shí)如果電源不穩(wěn)定，會(huì)對(duì)成像產(chǎn)生一系列直接且顯著的負(fù)面影響，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：

掃描電鏡（SEM）圖像出現(xiàn)亮度不均，一般說(shuō)明系統(tǒng)內(nèi)部或操作設(shè)置上出現(xiàn)了問(wèn)題。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中避免樣品燒毀，是保障樣品完整性和成像質(zhì)量的關(guān)鍵。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，實(shí)現(xiàn)斷層掃描（Tomographic Scanning）與深度成像（Depth Imaging）并非傳統(tǒng)SEM的標(biāo)準(zhǔn)功能。

判斷掃描電鏡（SEM）圖像是否出現(xiàn)失真或充電效應(yīng)，主要可以通過(guò)觀察圖像特征、了解樣品性質(zhì)和結(jié)合成像參數(shù)來(lái)判斷。

提高掃描電鏡（SEM）圖像的邊緣清晰度，本質(zhì)上是提升圖像的分辨率和信噪比，減少拖影、模糊和偽影，讓細(xì)節(jié)邊緣更銳利。

掃描電鏡（SEM）圖像原始輸出通常是灰度圖像，因?yàn)樗鼈兎从车氖请娮有盘?hào)強(qiáng)度（如二次電子、背散射電子等），不具備天然色彩。

在掃描電鏡（SEM）中實(shí)現(xiàn)局部放大，即放大樣品上某一特定區(qū)域，通常用于觀察細(xì)節(jié)結(jié)構(gòu)或缺陷特征，可以通過(guò)以下幾種方式實(shí)現(xiàn)：