樣品的選擇對掃描電鏡（SEM）成像有著重要的影響，因為不同的樣品特性和性質(zhì)需要不同的處理和準備方法。以下是一些樣品選擇方面的要求：

導電性： 掃描電鏡成像中，樣品表面需要具有一定的導電性，以便有效地排除電荷。非導電性樣品容易積累電荷，導致圖像模糊。對于非導電性樣品，可以通過涂覆導電薄層（如金屬薄層）或者進行金屬化處理來提高導電性。

干燥性： 水分對電子束的傳播產(chǎn)生阻礙，因此樣品在進入SEM之前應(yīng)該是干燥的。對于濕潤的生物樣品等，通常需要使用特殊的樣品制備技術(shù)，如冷凍干燥或化學固定。

表面平整度： 樣品表面應(yīng)盡可能平整，以獲得清晰的圖像。不平整的表面會導致散射和陰影，影響圖像質(zhì)量。在可能的情況下，可以通過切割、拋光等手段使樣品表面更加平整。

大小和形狀： 樣品的大小和形狀需要適應(yīng)SEM的樣品臺，并且要確保在SEM內(nèi)能夠獲得所需的圖像。對于大型樣品，可能需要進行切割或者選擇合適的放大倍數(shù)。

化學穩(wěn)定性： 樣品在真空環(huán)境下以及受到電子束照射時，可能發(fā)生化學變化。因此，樣品應(yīng)具有一定的化學穩(wěn)定性，或者可以通過特殊的處理來增強其穩(wěn)定性。

透明度： 對于透明樣品，例如納米顆粒或薄膜，需要考慮透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，TEM）而不是SEM。

在選擇樣品時，研究者需要綜合考慮這些因素，并采取適當?shù)臉悠分苽浜吞幚矸椒?，以確保在SEM中獲得高質(zhì)量的成像結(jié)果。不同類型的樣品可能需要不同的處理步驟，因此樣品準備是SEM研究中一個關(guān)鍵的步驟。

ZEM20臺式掃描電鏡

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