掃描電鏡（SEM）的高真空環(huán)境會導致液體樣品揮發(fā)和損壞，因此防止液體樣品揮發(fā)是很重要的。下面是一些常用方法：

低溫法：將樣品置于低溫環(huán)境下可以降低樣品揮發(fā)的速率。這可以通過在SEM的樣品艙中加入液氮或制冷機的方式來實現(xiàn)。

環(huán)境法：保持SEM樣品艙中的環(huán)境濕度可以減緩液體樣品的蒸發(fā)速率?？梢允褂铆h(huán)境控制系統(tǒng)或在SEM樣品艙中加入濕度控制劑來控制環(huán)境濕度。

選擇合適的樣品基底：選擇可以吸附和固定液體樣品的基底可以減少樣品的揮發(fā)。例如，選擇一些可以吸附水分子的材料作為基底，如石英片、硅片等。

減少電子束的束流強度：減少電子束的束流強度可以降低液體樣品的蒸發(fā)速率。但是，這可能會降低SEM圖像的分辨率和對比度。

需要注意的是，防止液體樣品揮發(fā)是一個復雜的問題，需要根據(jù)具體情況選擇合適的方法。在選擇和使用任何方法之前，請務必仔細考慮并進行充分的測試和實驗。

以上就是澤攸科技小編對如何防止掃描電鏡液體樣品揮發(fā)的介紹。更多掃描電鏡信息及價格請咨詢